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光谱分析仪的系统误差都是从哪来的？

发布时间：2021-09-03 10:03:11 　　　　　　　点击：5628

在光谱分析中，与其他的一切测量一样，系统误差的存在是不能允许的。我们研究光谱分析中的系统误差，就是找出系统误差的一般规律及其产生的原因，并且尽可能的分析出系统误差的具体来源，努力消除它的影响。而且对尚存在的系统误差要估计出其值的大小。因此，发现、减少或消除、估算系统误差是处理系统误差问题的关键所在。

光谱分析中系统误差的来源

标准样品与分析样品性质不相同将引起系统误差。引起这一类系统误差有下列情况

1.金属或合金的固体标准样品和分析样品的组织结构不相同。

2.粉末法分析时，制备的标准样品和分析样品在基体上或加入的物质结构上不相同。

3.标准样品与分析样品在质量、厚度和直径上的差异，特别是在标准样品或分析样品有一方小于临界值时，将引起蒸发和激发上的差异。

4.标准样品或控制样品化学成分的不准确，以及化学组成的均匀性不好。

第三元素的影响将引起系统误差。引起这一类系统误差的情况有：

1.除了基体和分析元素以外存在于标准样品和分析样品中的其他元素统称为“第三元素”，第三元素的存在能引起样品蒸发及激发的改变，也可能存在谱线的干扰。

2.在标准样品与分析样品预处理中的元素污染，导致分析结果的偏离。

3.使用代用标准样品进行分析，这样将造成分析样品与标准样品的化学组成相差较大。

分析方法引起的系统误差。引起这一类系统误差的情况有：

1.分析方法理论的不完善，必将引进系统误差。

2.仪器分析条件选择不恰当，是分析灵敏度降低或不稳定。

其他方面引起的系统误差。

如操作者习惯性的偏向；在粉末法或溶液法分析时，标样配置错误或计算错误；或者由于试剂不纯，引起分析结果偏离等。
　

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